Thickness-dependent crystallization on thermal anneal for titania/silica nm-layer composites deposited by ion beam sputter method / Pan, H. -W.; Wang, S. -J.; Kuo, L. -C.; Chao, S.; Principe, M.; Pinto, I. M.; Desalvo, R.. - In: OPTICS EXPRESS. - ISSN 1094-4087. - 22:(2014), pp. 29847-29854. [dx.doi.org/10.1364/OE.22.029847]
Thickness-dependent crystallization on thermal anneal for titania/silica nm-layer composites deposited by ion beam sputter method
I. M. Pinto;
2014
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