Photometric Redshifts in the W-CDF-S and ELAIS-S1 Fields Based on Forced Photometry from 0.36 to 4.5 Microns / Zou, Fan; Yang, Guang; Brandt, W. N.; Ni, Qingling; Bauer, Franz E.; Covone, Giovanni; Lacy, Mark; Napolitano, Nicola R.; Nyland, Kristina; Paolillo, Maurizio; Radovich, Mario; Spavone, Marilena; Vaccari, Mattia. - In: RESEARCH NOTES OF THE AAS. - ISSN 2515-5172. - 5:3(2021), p. 56. [10.3847/2515-5172/abf050]

Photometric Redshifts in the W-CDF-S and ELAIS-S1 Fields Based on Forced Photometry from 0.36 to 4.5 Microns

Covone, Giovanni;Napolitano, Nicola R.;Paolillo, Maurizio;Spavone, Marilena;
2021

2021
Photometric Redshifts in the W-CDF-S and ELAIS-S1 Fields Based on Forced Photometry from 0.36 to 4.5 Microns / Zou, Fan; Yang, Guang; Brandt, W. N.; Ni, Qingling; Bauer, Franz E.; Covone, Giovanni; Lacy, Mark; Napolitano, Nicola R.; Nyland, Kristina; Paolillo, Maurizio; Radovich, Mario; Spavone, Marilena; Vaccari, Mattia. - In: RESEARCH NOTES OF THE AAS. - ISSN 2515-5172. - 5:3(2021), p. 56. [10.3847/2515-5172/abf050]
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