Photometric Redshifts in the W-CDF-S and ELAIS-S1 Fields Based on Forced Photometry from 0.36 to 4.5 Microns / Zou, F., Yang, G., Brandt, W.N., Ni, Q., Bauer, F.E., Covone, G., Lacy, M., Napolitano, N.R., Nyland, K., Paolillo, M., Radovich, M., Spavone, M., Vaccari, M.. - In: RESEARCH NOTES OF THE AAS. - ISSN 2515-5172. - 5:3(2021), p. 56. [10.3847/2515-5172/abf050]

Photometric Redshifts in the W-CDF-S and ELAIS-S1 Fields Based on Forced Photometry from 0.36 to 4.5 Microns

Covone, Giovanni;Napolitano, Nicola R.;Paolillo, Maurizio;Spavone, Marilena;
2021

2021
Photometric Redshifts in the W-CDF-S and ELAIS-S1 Fields Based on Forced Photometry from 0.36 to 4.5 Microns / Zou, F., Yang, G., Brandt, W.N., Ni, Q., Bauer, F.E., Covone, G., Lacy, M., Napolitano, N.R., Nyland, K., Paolillo, M., Radovich, M., Spavone, M., Vaccari, M.. - In: RESEARCH NOTES OF THE AAS. - ISSN 2515-5172. - 5:3(2021), p. 56. [10.3847/2515-5172/abf050]
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