Combined experimental-FEM investigation of electrical ruggedness in double-sided cooled power modules / Scognamillo, Ciro; Catalano, ANTONIO PIO; Lasserre, Philippe; Duchesne, Cyrille; D'Alessandro, Vincenzo; Castellazzi, Alberto. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 114:(2020). [10.1016/j.microrel.2020.113742]

Combined experimental-FEM investigation of electrical ruggedness in double-sided cooled power modules

Ciro Scognamillo;Antonio Pio Catalano;Vincenzo d'Alessandro;Alberto Castellazzi
2020

2020
Combined experimental-FEM investigation of electrical ruggedness in double-sided cooled power modules / Scognamillo, Ciro; Catalano, ANTONIO PIO; Lasserre, Philippe; Duchesne, Cyrille; D'Alessandro, Vincenzo; Castellazzi, Alberto. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 114:(2020). [10.1016/j.microrel.2020.113742]
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