Approccio bayesiano pratico per l’analisi di affidabilità di dispositivi ad alta tecnologia / Giorgio, M; Lanzotti, A.. - (1996), pp. 24-26. ( ATTI DEL III CONGRESSO NAZIONALE SIMAI SALICE TE, SALICE TERME (PV), ITALIA, 27-31 MAGGIO 1996).
Approccio bayesiano pratico per l’analisi di affidabilità di dispositivi ad alta tecnologia
GIORGIO M;LANZOTTI A.
1996
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