Testing sequential quantum measurements: How can maximal knowledge be extracted? / Nagali, E., Felicetti, S., De Assis, P., D'Ambrosio, V., Filip, R., Sciarrino, F.. - In: SCIENTIFIC REPORTS. - ISSN 2045-2322. - 2:1(2012), p. 443. [10.1038/srep00443]
Testing sequential quantum measurements: How can maximal knowledge be extracted?
D'Ambrosio, Vincenzo;
2012
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