Testing sequential quantum measurements: How can maximal knowledge be extracted? / Nagali, Eleonora; Felicetti, Simone; De Assis, Pierre-Louis; D'Ambrosio, Vincenzo; Filip, Radim; Sciarrino, Fabio. - In: SCIENTIFIC REPORTS. - ISSN 2045-2322. - 2:1(2012), p. 443. [10.1038/srep00443]
Testing sequential quantum measurements: How can maximal knowledge be extracted?
D'Ambrosio, Vincenzo;
2012
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