Discrete model analysis of the critical current-density measurements in superconducting thin films by a single-coil inductive method / M., Aurino; DI GENNARO, Emiliano; F., Di Iorio; A., Gauzzi; G., Lamura; Andreone, Antonello. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 98:(2005), pp. 123901-123901-7. [10.1063/1.2142097]
Discrete model analysis of the critical current-density measurements in superconducting thin films by a single-coil inductive method
DI GENNARO, EMILIANO;ANDREONE, ANTONELLO
2005
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