Investigation on bias stress effects in n-type PDI8-CN2 thin-film transistors / F. V., Di Girolamo; F., Ciccullo; M., Barra; Carella, Antonio; Cassinese, Antonio. - In: ORGANIC ELECTRONICS. - ISSN 1566-1199. - 13:(2012), pp. 2281-2289. [10.1016/j.orgel.2012.06.044]
Investigation on bias stress effects in n-type PDI8-CN2 thin-film transistors
CARELLA, ANTONIO;CASSINESE, ANTONIO
2012
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