Defect Distribution And Bonding Structure In High Band Gap a-Si1-xCx:H Films Deposited In H2 Dilution / R., G., R., R., C., S., F., D., F., G., C. F., P., E., T., Ambrosone, G., Catalanotti, S., Coscia, U., P., R., G., D.M., V., R., A., M., F., Z.. - In: MATERIALS RESEARCH SOCIETY SYMPOSIA PROCEEDINGS. - ISSN 0272-9172. - STAMPA. - 336:(1994), pp. 517-522. (Amorphous Silicon Technology San Francisco April 4-8,1994).

Defect Distribution And Bonding Structure In High Band Gap a-Si1-xCx:H Films Deposited In H2 Dilution

AMBROSONE, GIUSEPPINA;CATALANOTTI, SERGIO;COSCIA, UBALDO;
1994

1994
Defect Distribution And Bonding Structure In High Band Gap a-Si1-xCx:H Films Deposited In H2 Dilution / R., G., R., R., C., S., F., D., F., G., C. F., P., E., T., Ambrosone, G., Catalanotti, S., Coscia, U., P., R., G., D.M., V., R., A., M., F., Z.. - In: MATERIALS RESEARCH SOCIETY SYMPOSIA PROCEEDINGS. - ISSN 0272-9172. - STAMPA. - 336:(1994), pp. 517-522. (Amorphous Silicon Technology San Francisco April 4-8,1994).
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