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Current pulses induced in a silicon detector by 10 different heavy ion species at known energies around 10 A MeV have been sampled in time at high frequency. Their individual average shapes are quite well reproduced by a fit procedure based on our recent charge carrier collection treatment which considers the progressive extraction of the electrons and holes from the high carrier density zone along the ionizing particle track. This region is assumed to present a supplementary dielectric polarization and consequently a disturbed electric field. The influence of the nature of the heavy ion on the values of the three fit parameters is analyzed
Description of current pulses induced by heavy ions in silicon detectors (II) / H., H., M., P., B., B., L., L., N., L.N., M. F., R., S., B., R., B., M., C., A., C., D., C., F., d.O.S., P., E., J. D., F., E., G., D., G., Lautesse, P.h., O., L., G., M., N. A., O., et al.. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - 642:1(2011), pp. 59-64. [10.1016/j.nima.2011.03.053]
Description of current pulses induced by heavy ions in silicon detectors (II)
H. Hamrita;M. Pârlog;B. Borderie;L. Lavergne;N. Le Neindre;M. F. Rivet;S. Barbey;R. Bougault;M. Chabot;A. Chbihi;D. Cussol;F. de Oliveira Santos;P. Edelbruck;J. D. Frankland;E. Galichet;D. Guinet;P.h. Lautesse;O. Lopez;G. Martinet;N. A. Orr;S. Piantelli;J. Tillier;G. Politi;E. Rauly;ROSATO, ELIO;B. Tamain;E. Vient;VIGILANTE, MARIANO
2011
Abstract
Current pulses induced in a silicon detector by 10 different heavy ion species at known energies around 10 A MeV have been sampled in time at high frequency. Their individual average shapes are quite well reproduced by a fit procedure based on our recent charge carrier collection treatment which considers the progressive extraction of the electrons and holes from the high carrier density zone along the ionizing particle track. This region is assumed to present a supplementary dielectric polarization and consequently a disturbed electric field. The influence of the nature of the heavy ion on the values of the three fit parameters is analyzed
Description of current pulses induced by heavy ions in silicon detectors (II) / H., H., M., P., B., B., L., L., N., L.N., M. F., R., S., B., R., B., M., C., A., C., D., C., F., d.O.S., P., E., J. D., F., E., G., D., G., Lautesse, P.h., O., L., G., M., N. A., O., et al.. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - 642:1(2011), pp. 59-64. [10.1016/j.nima.2011.03.053]
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
