Spectral characterization of two-dimensional Thue–Morse quasicrystals realized with high resolution lithography / V., M., S., D.N., G., Z., P., M., M., R., Abbate, G., J., Z., L., P.. - In: JOURNAL OF OPTICS. - ISSN 2040-8978. - STAMPA. - 13:(2011), pp. 015602-1-015602-5. [10.1088/2040-8978/13/1/015602]
Spectral characterization of two-dimensional Thue–Morse quasicrystals realized with high resolution lithography
ABBATE, GIANCARLO;
2011
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