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Bias stress instability in organic transistors investigated by ac admittance measurements / F. V., D.G., Barra, M., V., C., M., O., C., R., Cassinese, A.. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 107:(2010), pp. 114508-1-114508-5.

Bias stress instability in organic transistors investigated by ac admittance measurements

BARRA, Mario;CASSINESE, ANTONIO
2010
2010
Bias stress instability in organic transistors investigated by ac admittance measurements / F. V., D.G., Barra, M., V., C., M., O., C., R., Cassinese, A.. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 107:(2010), pp. 114508-1-114508-5.
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