Size and temperature effects on the resistance of copper and carbon nanotubes nano-interconnects / Chiariello, ANDREA GAETANO; A., Maffucci; Miano, Giovanni. - STAMPA. - (2010), pp. 97-100. (Intervento presentato al convegno ”, Proc. of 19th IEEE Topical Meeting on Electrical Performance of Electronic Packaging and Systems EPEP 2010 tenutosi a Austin (Texas, USA) nel 25-27 October 2010).
Size and temperature effects on the resistance of copper and carbon nanotubes nano-interconnects
CHIARIELLO, ANDREA GAETANO;MIANO, GIOVANNI
2010
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.