Global existence and relaxation limit for smooth solutions to the Euler-Poisson model for semiconductors / G., Ali'; D., Bini; Rionero, Salvatore. - In: SIAM JOURNAL ON MATHEMATICAL ANALYSIS. - ISSN 0036-1410. - STAMPA. - 32:3(2000), pp. 572-587.
Global existence and relaxation limit for smooth solutions to the Euler-Poisson model for semiconductors
RIONERO, SALVATORE
2000
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.