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Charge correlations in multifragmentation of a heavy system and spinodal instabilities / G., Tabacaru; B., Borderie; Chomaz, P. h.; M., Colonna; J. D., Frankland; A., Guarnera; M., Parlog; M. F., Rivet; G., Auger; N., Bellaize; F., Bocage; R., Bougault; R., Brou; P., Buchet; A., Chbihi; J., Colin; D., Cussol; R., Dayras; A., Demeyer; D., Doré; D., Durand; E., Galichet; E., Genouin Duhamel; E., Gerlic; D., Guinet; P., Lautesse; J. L., Laville; J. F., Lecolley; T., Lefort; R., Legrain; N., Le Neindre; O., Lopez; M., Louvel; A. M., Maskay; L., Nalpas; A. D., Nguyen; J., Péter; E., Plagnol; Rosato, Elio; S., Salou; F., Saint Laurent; J. C., Steckmeyer; M., Stern; B., Tamain; L., Tassan Got; O., Tirel; E., Vient; C., Volant; J. P., Wielezcko. - STAMPA. - 116:(2000), pp. 433-442. (Intervento presentato al convegno XXXVIII International Win¬ter Meeting on Nuclear Physics tenutosi a Bormio (Italy) nel January 23-29, 2000).
Charge correlations in multifragmentation of a heavy system and spinodal instabilities
G. Tabacaru;B. Borderie;P.h. Chomaz;M. Colonna;J. D. Frankland;A. Guarnera;M. Parlog;M. F. Rivet;G. Auger;N. Bellaize;F. Bocage;R. Bougault;R. Brou;P. Buchet;A. Chbihi;J. Colin;D. Cussol;R. Dayras;A. Demeyer;D. Doré;D. Durand;E. Galichet;E. Genouin Duhamel;E. Gerlic;D. Guinet;P. Lautesse;J. L. Laville;J. F. Lecolley;T. Lefort;R. Legrain;N. Le Neindre;O. Lopez;M. Louvel;A. M. Maskay;L. Nalpas;A. D. Nguyen;J. Péter;E. Plagnol;ROSATO, ELIO;S. Salou;F. Saint Laurent;J. C. Steckmeyer;M. Stern;B. Tamain;L. Tassan Got;O. Tirel;E. Vient;C. Volant;J. P. Wielezcko
Charge correlations in multifragmentation of a heavy system and spinodal instabilities / G., Tabacaru; B., Borderie; Chomaz, P. h.; M., Colonna; J. D., Frankland; A., Guarnera; M., Parlog; M. F., Rivet; G., Auger; N., Bellaize; F., Bocage; R., Bougault; R., Brou; P., Buchet; A., Chbihi; J., Colin; D., Cussol; R., Dayras; A., Demeyer; D., Doré; D., Durand; E., Galichet; E., Genouin Duhamel; E., Gerlic; D., Guinet; P., Lautesse; J. L., Laville; J. F., Lecolley; T., Lefort; R., Legrain; N., Le Neindre; O., Lopez; M., Louvel; A. M., Maskay; L., Nalpas; A. D., Nguyen; J., Péter; E., Plagnol; Rosato, Elio; S., Salou; F., Saint Laurent; J. C., Steckmeyer; M., Stern; B., Tamain; L., Tassan Got; O., Tirel; E., Vient; C., Volant; J. P., Wielezcko. - STAMPA. - 116:(2000), pp. 433-442. (Intervento presentato al convegno XXXVIII International Win¬ter Meeting on Nuclear Physics tenutosi a Bormio (Italy) nel January 23-29, 2000).
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11588/329790
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
