ALL OPTICAL MULTI-WAVELENGTH TECHNIQUE FOR THE SIMULTANEOUS MEASUREMENT OF BULK RECOMBINATION LIFETIMES AND FRONT/REAR SURFACE RECOMBINATION VELOCITY IN SINGLE CRYSTAL SILICON SAMPLES / Irace, A., Vitale, G.F., L., S., L., Z., A., C.. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - (2003), pp. 3407-3413.
ALL OPTICAL MULTI-WAVELENGTH TECHNIQUE FOR THE SIMULTANEOUS MEASUREMENT OF BULK RECOMBINATION LIFETIMES AND FRONT/REAR SURFACE RECOMBINATION VELOCITY IN SINGLE CRYSTAL SILICON SAMPLES
IRACE, ANDREA;VITALE, GIOVANNI FRANCESCO;
2003
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