Extraction and modeling of self-heating and mutual thermal coupling impedance of bipolar transistors / Nebojsa, Nenadovic; Slobodan, Mijalkovic; Lis K., Nanver; Lode J. K., Vandamme; Hugo, Schellevis; D'Alessandro, Vincenzo; Jan W., Slotboom. - (2003), pp. 125-128. (Intervento presentato al convegno IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM) tenutosi a Toulouse, France nel Sep. 2003) [10.1109/BIPOL.2003.1274950].

Extraction and modeling of self-heating and mutual thermal coupling impedance of bipolar transistors

d'ALESSANDRO, VINCENZO;
2003

2003
0780378008
Extraction and modeling of self-heating and mutual thermal coupling impedance of bipolar transistors / Nebojsa, Nenadovic; Slobodan, Mijalkovic; Lis K., Nanver; Lode J. K., Vandamme; Hugo, Schellevis; D'Alessandro, Vincenzo; Jan W., Slotboom. - (2003), pp. 125-128. (Intervento presentato al convegno IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM) tenutosi a Toulouse, France nel Sep. 2003) [10.1109/BIPOL.2003.1274950].
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11588/183823
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 1
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 1
social impact