Detection of thermal runaway and extraction of thermal resistance in silicon-on-glass NPN BJTs using the VCB-VBE voltage plane / D'Alessandro, Vincenzo; Nebojsa, Nenadovic; Fabrizio, Tamigi; Lis K., Nanver; Hugo, Schellevis; Jan W., Slotboom. - STAMPA. - (2002), pp. 22-29. (Intervento presentato al convegno 5th Workshop on Semiconductor Advances for Future Electronics (SAFE) tenutosi a Koningshof, Veldhoven, the Netherlands nel Nov. 2002).
Detection of thermal runaway and extraction of thermal resistance in silicon-on-glass NPN BJTs using the VCB-VBE voltage plane
d'ALESSANDRO, VINCENZO;
2002
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