Bayes Inference for Reliability of HV Insulation Systems in the Presence of Switching Voltage Surges Using a Weibull Stress-Strength Model / Chiodo, Elio; D., Fabiani; G., Mazzanti. - ELETTRONICO. - 3:(2003), pp. 1-8. (Intervento presentato al convegno IEEE Power Tech 2003 Conference tenutosi a Bologna, Italy nel June 23-26, 2003) [10.1109/PTC.2003.1304524].
Bayes Inference for Reliability of HV Insulation Systems in the Presence of Switching Voltage Surges Using a Weibull Stress-Strength Model
CHIODO, ELIO;
2003
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