DETECTION AND LOCATION OF DEFECTS IN ELECTRONIC DEVICES BY MEANS OF SCANNING ULTRASONIC MICROSCOPY AND THE WAVELET TRASFORM / Angrisani, L., L., B., D., D., P., D., Y., O.. - In: MEASUREMENT. - ISSN 0263-2241. - (2002), pp. 77-91.
DETECTION AND LOCATION OF DEFECTS IN ELECTRONIC DEVICES BY MEANS OF SCANNING ULTRASONIC MICROSCOPY AND THE WAVELET TRASFORM
ANGRISANI, LEOPOLDO;
2002
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