Generation of Digital Elevation Models by Using SIR-C/X-SAR Multi-Frequency Two-Pass Interferometry: The Etna Case Study / Lanari, R; Fornaro, G; Riccio, Daniele; Migliaccio, M; Papathanassiou, K. P.; Moreira, J. R.; Schwbisch, M; Dutra, L; Puglisi, G; Franceschetti, G; Coltelli, M.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON GEOSCIENCE AND REMOTE SENSING. - ISSN 0196-2892. - 34:(1996), pp. 1097-1114.
Generation of Digital Elevation Models by Using SIR-C/X-SAR Multi-Frequency Two-Pass Interferometry: The Etna Case Study
RICCIO, DANIELE;
1996
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