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Detection and location of defects in electronic devices by means of scanning ultrasonic microscopy and the wavelet trasform / Angrisani, Leopoldo; Bechou, L.; Dallet, D.; Daponte, P.; Ousten, Y.. - In: MEASUREMENT. - ISSN 0263-2241. - 31:(2002), pp. 77-91.
Detection and location of defects in electronic devices by means of scanning ultrasonic microscopy and the wavelet trasform
ANGRISANI, LEOPOLDO;
2002
Abstract
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