Thermal Characterisation of Porous Silicon via Thermal Wave Interferometry / U., Bernini; Maddalena, Pasqualino; E., Massera; A., Ramaglia. - In: OPTICS COMMUNICATIONS. - ISSN 0030-4018. - 168:(1999), p. 305.
Thermal Characterisation of Porous Silicon via Thermal Wave Interferometry
MADDALENA, PASQUALINO;
1999
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