Parametrization of optical properties of indium–tin–oxide thin films by spectroscopic ellipsometry: Substrate interfacial reactivity / M., L., M., G., P., C., G., B., DE ROSA, R., F., R., C., S., J., P.l., R., R.. - In: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY. A. VACUUM, SURFACES, AND FILMS. - ISSN 0734-2101. - 20:(2002), pp. 37-42.

Parametrization of optical properties of indium–tin–oxide thin films by spectroscopic ellipsometry: Substrate interfacial reactivity

DE ROSA, ROSARIO;
2002

2002
Parametrization of optical properties of indium–tin–oxide thin films by spectroscopic ellipsometry: Substrate interfacial reactivity / M., L., M., G., P., C., G., B., DE ROSA, R., F., R., C., S., J., P.l., R., R.. - In: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY. A. VACUUM, SURFACES, AND FILMS. - ISSN 0734-2101. - 20:(2002), pp. 37-42.
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