Parametrization of optical properties of indium–tin–oxide thin films by spectroscopic ellipsometry: Substrate interfacial reactivity / M., Losurdo; M., Giangregorio; P., Capezzuto; G., Bruno; DE ROSA, Rosario; F., Roca; C., Summonte; J., Pl; R., Rizzoli. - In: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY. A. VACUUM, SURFACES, AND FILMS. - ISSN 0734-2101. - 20:(2002), pp. 37-42.
Parametrization of optical properties of indium–tin–oxide thin films by spectroscopic ellipsometry: Substrate interfacial reactivity
DE ROSA, ROSARIO;
2002
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