Spectroscopic ellipsometry study of interfaces and crystallization behavior during annealing of a-Si:H films / M., Losurdo; F., Roca; DE ROSA, Rosario; P. CAPEZZUTO AND G., Bruno. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 383:(2001), pp. 69-72.
Spectroscopic ellipsometry study of interfaces and crystallization behavior during annealing of a-Si:H films
DE ROSA, ROSARIO;
2001
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