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Enhanced electron screening in d(d,p)t for deuterated metals� / F., Raiola; L., Gang; C., Bonomo; G., Gyrky; M., Aliotta; H. W., Becker; R., Bonetti; C., Broggini; P., Corvisiero; A. D., Onofrio; Z., Flp; G., Gervino; L., Gialanella; M., Junker; P., Prati; Roca, Vincenzo; C., Rolfs; Romano, Mario; E., Somorjai; F., Strieder; F., Terrasi; G., Fiorentini; K. LANGANKE AND J., WINTER ENHANCED ELECTRON SCREENING IN DD; PT FOR DEUTERATED METALS, E. U. R. P. H. Y. S. J. A.. - In: EUROPEAN JOURNAL OF PHYSICS. - ISSN 0143-0807. - STAMPA. - A19:(2004), pp. 283-287.
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F. RAIOLA;L. GANG;C. BONOMO;G. GYRKY;M. ALIOTTA;H. W. BECKER;R. BONETTI;C. BROGGINI;P. CORVISIERO;A. D. ONOFRIO;Z. FLP;G. GERVINO;L. GIALANELLA;M. JUNKER;P. PRATI;ROCA, VINCENZO;C. ROLFS;ROMANO, MARIO;E. SOMORJAI;F. STRIEDER;F. TERRASI;G. FIORENTINI;K. LANGANKE AND J. WINTER ENHANCED ELECTRON SCREENING IN DD;PT FOR DEUTERATED METALS E.U.R. P.H.Y.S. J. A.
Enhanced electron screening in d(d,p)t for deuterated metals� / F., Raiola; L., Gang; C., Bonomo; G., Gyrky; M., Aliotta; H. W., Becker; R., Bonetti; C., Broggini; P., Corvisiero; A. D., Onofrio; Z., Flp; G., Gervino; L., Gialanella; M., Junker; P., Prati; Roca, Vincenzo; C., Rolfs; Romano, Mario; E., Somorjai; F., Strieder; F., Terrasi; G., Fiorentini; K. LANGANKE AND J., WINTER ENHANCED ELECTRON SCREENING IN DD; PT FOR DEUTERATED METALS, E. U. R. P. H. Y. S. J. A.. - In: EUROPEAN JOURNAL OF PHYSICS. - ISSN 0143-0807. - STAMPA. - A19:(2004), pp. 283-287.
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11588/109972
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
