Charged-hadron identification at Belle II

Zlebcik, R.; Zhu, L.; Zhou, Q. D.; Zhou, J. S.; Zhang, B.; Zeyrek, M.; Zeng, F.; Zani, L.; Yusa, Y.; Yuan, J.; Yoshihara, K.; Yin, J. H.; Yi, K.; Yelton, J.; Yang, S. B.; Yan, W. C.; Yan, W.; Yamada, S.; Yabsley, B. D.; X. P., Xu; Won, E.; Wessel, C.; Watanuki, S.; Watanabe, M.; Warburton, A.; Wang, Z.; Wang, M. -Z.; Wallner, S.; Wakai, M.; Vossen, A.; Volpe, R.; Vobbilisetti, V.; Vitale, L.; Vismaya, V. S.; Veronesi, M.; Varvell, K. E.; Tonder, R. V.; Vahsen, S. E.; Ushiroda, Y.; Urquijo, P.; Uno, S.; Uno, K.; Unno, Y.; Unger, K.; Uglov, T.; Uenlue, E.; Ueda, I.; Tsaklidis, I.; Trantou, F. F.; Trabelsi, K.; Torassa, E.; Tiwary, R.; Tittel, O.; Testa, F.; Tenchini, F.; Tanida, K.; Tamponi, U.; Takizawa, M.; Takahashi, M.; Svidras, H.; Suwonjandee, N.; Sumisawa, K.; Sumihama, M.; Sue, Y.; Stroili, R.; Stefkova, S.; Stavroulakis, P.; Staric, M.; Spruck, B.; Spataro, S.; Solovieva, E.; Sokolov, A.; Soffer, A.; Sobotzik, M.; Sobie, R. J.; Skorupa, J.; Singh, J. B.; Simon, F.; Simo, X.; Sibidanov, A.; Shtol, D.; Shiu, J. -G.; Shillington, T.; Shi, X. D.; Shan, W.; Sfienti, C.; Sevior, M. E.; Serrano, J.; Senyo, K.; Selce, A.; Seino, Y.; Schwartz, A. J.; Schwanda, C.; Schnepf, M.; Schneider, S.; Schmitz, J.; Scavino, B.; Savinov, V.; Santelj, L.; Sandilya, S.; Sanders, D. A.; Rout, N.; Rostomyan, A.; Roney, J. M.; Rizzo, G.; Ripp-Baudot, I.; Ricalde Herrmann, D.; Reuter, L.; Remnev, M.; Reiter, S.; Reif, M.; Rehman, J. U.; Ravindran, K.; Raj, V.; Raiz, S.; Raeuber, G.; Rados, P.; Purwar, H.; Privalov, S.; Prim, M. T.; Prencipe, E.; Prell, S.; Praz, C.; Prakash, A.; Podobnik, T.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Piilonen, L. E.; Pestotnik, R.; Peschke, R.; Patra, S.; Passeri, A.; Park, S. -H.; Park, K.; Park, J.; Parham, K.; Pardi, S.; Pakhlova, G.; Oxford, E. R.; Ono, H.; Okubo, R.; Ogawa, S.; Novosel, A.; Nishida, S.; Neu, M.; Nayak, M.; Natochii, A.; Natkaniec, Z.; Naruki, M.; Nakazawa, Y.; Nakao, M.; Nakamura, I.; Mussa, R.; Moser, H. -G.; Moreira De Carvalho, A. L.; Moneta, S.; Mohanty, G. B.; Miyabayashi, K.; Mitra, S.; Mirra, M.; Miller, C.; Merola, M.; Meleshko, D.; Meier, F.; Mehta, R.; Mckenna, J. A.; Maushart, M.; Matvienko, D.; Matsuoka, K.; Masuda, M.; Massaccesi, L.; Martinov, T.; Martens, A.; Martellini, C.; Marinas, C.; Marcello, S.; Marcantonio, D.; Mantovano, M.; Manoni, E.; Manfredi, R.; Mancinelli, G.; Maiti, R.; Maharana, S. P.; Maggiora, M.; Madaan, C.; Ma, Y.; Lyu, C.; Lueck, T.; Longo, S.; Liventsev, D.; Liu, Z. Q.; Liu, Y.; Liu, Q. Y.; Liu, M. H.; Lisovskyi, V.; Lin, S.; Lin, J.; Libby, J.; Liao, Y. P.; Y. B., Li; Li, Y.; W. Z., Li; Q. M., Li; L. K., Li; H. -J., Li; Li, C.; Lewis, P. M.; Leo, P.; Lee, M. J.; Le Diberder, F. R.; Leboucher, R.; Laurenza, M.; Lau, T. S.; Lange, J. S.; Lanceri, L.; Lam, T.; Lalwani, K.; Lacaprara, S.; Kwon, Y. -J.; Kuzmin, A.; Kunigo, T.; Kumara, K.; Kumar, J.; Kulii, Y.; Krokovny, P.; Krizan, P.; Kowalewski, R.; Kovalenko, E.; Korpar, S.; Korobov, A.; Kojima, K.; Kohani, S.; Kodys, P.; Kinoshita, K.; Kim, K. -H.; Kim, J. -Y.; Kim, D. Y.; Kim, C. -H.; Kiesling, C.; Khan, M.; Ketter, C.; Keil, F.; Kawasaki, T.; Karyan, G.; Kang, K. H.; Kandra, J.; Junkerkalefeld, H.; Johnson, A.; Jin, Y.; Jia, S.; X. B., Ji; Q. P., Ji; Jang, E. -J.; Jacobs, W. W.; Jacobi, D.; Jackson, P.; Iwasaki, M.; Itoh, R.; Ishikawa, A.; Ipsita, N.; Inguglia, G.; Inami, K.; Iijima, T.; Humair, T.; Huang, A.; Hsu, C. -L.; Horak, P.; Hoppe, R.; Hohmann, M.; Hoek, M.; Higuchi, T.; Hernandez Villanueva, M.; Heredia De La Cruz, I.; Heine, G.; Heidelbach, A.; Hedges, M. T.; Hazra, S.; Hayashii, H.; Hayasaka, K.; Han, Y.; Haide, I.; Gudkova, K.; Guan, Y.; Gruberova, Z.; Greenwald, D.; Graziani, E.; Gradl, W.; Goldenzweig, P.; Gogota, O.; Godang, R.; Gobbo, B.; Gironella Gironell, P.; Giri, A.; Giordano, R.; Giakoustidis, G.; Ghosh, D.; Gellrich, A.; Gaz, A.; Gautam, V.; Gaur, V.; Gaudino, G.; Garg, R.; Garcia-Hernandez, M.; Ganiev, E.; Gale, A.; Gabrielli, A.; Fulsom, B. G.; Frey, A.; Forti, F.; Fodor, A.; Finocchiaro, G.; Finck, C.; Fillinger, T.; Ferber, T.; Feichtinger, P.; Farkas, R.; Eppelt, J.; Ecker, P.; Dujany, G.; Dorigo, M.; Dong, T. V.; Dominguez Jimenez, I.; Dolezal, Z.; Dingfelder, J.; Di Canto, A.; Dey, S.; Destefanis, M.; De Sangro, R.; De Pietro, G.; De La Motte, S. A.; De La Cruz-Burelo, E.; Das, S.; Cui, J. X.; Corona, L.; Consigny, I.; Cochran, J.; Choudhury, S.; Choi, S. -K.; Cho, S. -J.; Cho, K.; Cho, H. -E.; Chirapatpimol, K.; Chin, J.; Chilikin, K.; Cheon, B. G.; Chen, Y. -T.; Chen, L.; Cheema, P.; Chang, M. -C.; Cecchi, C.; Casarosa, G.; Cao, L.; Campajola, M.; Campagna, Q.; Bussino, S.; Budano, A.; Browder, T. E.; Briere, R. A.; Branchini, P.; Bracko, M.; Bozek, A.; Boschetti, A.; Borah, J.; Bonvicini, G.; Bondar, A.; Bodrov, D.; Bobrov, A.; Biswas, D.; Bilka, T.; Bianchi, F.; Bhuyan, B.; Bettarini, S.; Bessner, M.; Bertholet, E.; Bertemes, M.; Bertacchi, V.; Bernlochner, F. U.; Bennett, J. V.; Becker, J.; Becherer, F.; Beaubien, A.; Baur, A.; Baudot, J.; Bartl, M.; Barrett, M.; Banerjee, S.; Bambade, P.; Bahinipati, S.; Baghel, N. K.; Bae, H.; Babu, V.; Ayad, R.; Aversano, M.; Aushev, V.; Aushev, T.; Atmacan, H.; Asner, D. M.; Antonioli, C.; N. A., Ky; Angelsmark, M.; Amos, K.; Althubiti, N.; Aloisio, A.; Alhakami, M.; Alghamdi, S.; Albert, A.; Akopov, N.; Aihara, H.; Ahn, Y.; Ahmed, H.; Adachi, I.

doi:10.1140/epjc/s10052-025-14627-7

The Belle II experiment’s ability to identify particles critically affects the sensitivity of its measurements. We describe Belle II’s algorithms for identifying charged particles and evaluate their performance in separating pions, kaons, and protons using 426fb-1 of data collected at the energy-asymmetric e+e- collider SuperKEKB in 2019–2022 at center-of-mass energies at and near the mass of the Υ(4S).

Charged-hadron identification at Belle II / Zlebcik, R.; Zhu, L.; Zhou, Q. D.; Zhou, J. S.; Zhang, B.; Zeyrek, M.; Zeng, F.; Zani, L.; Yusa, Y.; Yuan, J.; Yoshihara, K.; Yin, J. H.; Yi, K.; Yelton, J.; Yang, S. B.; Yan, W. C.; Yan, W.; Yamada, S.; Yabsley, B. D.; Xu, X. P.; Won, E.; Wessel, C.; Watanuki, S.; Watanabe, M.; Warburton, A.; Wang, Z.; Wang, M. -Z.; Wallner, S.; Wakai, M.; Vossen, A.; Volpe, R.; Vobbilisetti, V.; Vitale, L.; Vismaya, V. S.; Veronesi, M.; Varvell, K. E.; Tonder, R. V.; Vahsen, S. E.; Ushiroda, Y.; Urquijo, P.; Uno, S.; Uno, K.; Unno, Y.; Unger, K.; Uglov, T.; Uenlue, E.; Ueda, I.; Tsaklidis, I.; Trantou, F. F.; Trabelsi, K.; Torassa, E.; Tiwary, R.; Tittel, O.; Testa, F.; Tenchini, F.; Tanida, K.; Tamponi, U.; Takizawa, M.; Takahashi, M.; Svidras, H.; Suwonjandee, N.; Sumisawa, K.; Sumihama, M.; Sue, Y.; Stroili, R.; Stefkova, S.; Stavroulakis, P.; Staric, M.; Spruck, B.; Spataro, S.; Solovieva, E.; Sokolov, A.; Soffer, A.; Sobotzik, M.; Sobie, R. J.; Skorupa, J.; Singh, J. B.; Simon, F.; Simo, X.; Sibidanov, A.; Shtol, D.; Shiu, J. -G.; Shillington, T.; Shi, X. D.; Shan, W.; Sfienti, C.; Sevior, M. E.; Serrano, J.; Senyo, K.; Selce, A.; Seino, Y.; Schwartz, A. J.; Schwanda, C.; Schnepf, M.; Schneider, S.; Schmitz, J.; Scavino, B.; Savinov, V.; Santelj, L.; Sandilya, S.; Sanders, D. A.; Rout, N.; Rostomyan, A.; Roney, J. M.; Rizzo, G.; Ripp-Baudot, I.; Ricalde Herrmann, D.; Reuter, L.; Remnev, M.; Reiter, S.; Reif, M.; Rehman, J. U.; Ravindran, K.; Raj, V.; Raiz, S.; Raeuber, G.; Rados, P.; Purwar, H.; Privalov, S.; Prim, M. T.; Prencipe, E.; Prell, S.; Praz, C.; Prakash, A.; Podobnik, T.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Piilonen, L. E.; Pestotnik, R.; Peschke, R.; Patra, S.; Passeri, A.; Park, S. -H.; Park, K.; Park, J.; Parham, K.; Pardi, S.; Pakhlova, G.; Oxford, E. R.; Ono, H.; Okubo, R.; Ogawa, S.; Novosel, A.; Nishida, S.; Neu, M.; Nayak, M.; Natochii, A.; Natkaniec, Z.; Naruki, M.; Nakazawa, Y.; Nakao, M.; Nakamura, I.; Mussa, R.; Moser, H. -G.; Moreira De Carvalho, A. L.; Moneta, S.; Mohanty, G. B.; Miyabayashi, K.; Mitra, S.; Mirra, M.; Miller, C.; Merola, M.; Meleshko, D.; Meier, F.; Mehta, R.; Mckenna, J. A.; Maushart, M.; Matvienko, D.; Matsuoka, K.; Masuda, M.; Massaccesi, L.; Martinov, T.; Martens, A.; Martellini, C.; Marinas, C.; Marcello, S.; Marcantonio, D.; Mantovano, M.; Manoni, E.; Manfredi, R.; Mancinelli, G.; Maiti, R.; Maharana, S. P.; Maggiora, M.; Madaan, C.; Ma, Y.; Lyu, C.; Lueck, T.; Longo, S.; Liventsev, D.; Liu, Z. Q.; Liu, Y.; Liu, Q. Y.; Liu, M. H.; Lisovskyi, V.; Lin, S.; Lin, J.; Libby, J.; Liao, Y. P.; Li, Y. B.; Li, Y.; Li, W. Z.; Li, Q. M.; Li, L. K.; Li, H. -J.; Li, C.; Lewis, P. M.; Leo, P.; Lee, M. J.; Le Diberder, F. R.; Leboucher, R.; Laurenza, M.; Lau, T. S.; Lange, J. S.; Lanceri, L.; Lam, T.; Lalwani, K.; Lacaprara, S.; Kwon, Y. -J.; Kuzmin, A.; Kunigo, T.; Kumara, K.; Kumar, J.; Kulii, Y.; Krokovny, P.; Krizan, P.; Kowalewski, R.; Kovalenko, E.; Korpar, S.; Korobov, A.; Kojima, K.; Kohani, S.; Kodys, P.; Kinoshita, K.; Kim, K. -H.; Kim, J. -Y.; Kim, D. Y.; Kim, C. -H.; Kiesling, C.; Khan, M.; Ketter, C.; Keil, F.; Kawasaki, T.; Karyan, G.; Kang, K. H.; Kandra, J.; Junkerkalefeld, H.; Johnson, A.; Jin, Y.; Jia, S.; Ji, X. B.; Ji, Q. P.; Jang, E. -J.; Jacobs, W. W.; Jacobi, D.; Jackson, P.; Iwasaki, M.; Itoh, R.; Ishikawa, A.; Ipsita, N.; Inguglia, G.; Inami, K.; Iijima, T.; Humair, T.; Huang, A.; Hsu, C. -L.; Horak, P.; Hoppe, R.; Hohmann, M.; Hoek, M.; Higuchi, T.; Hernandez Villanueva, M.; Heredia De La Cruz, I.; Heine, G.; Heidelbach, A.; Hedges, M. T.; Hazra, S.; Hayashii, H.; Hayasaka, K.; Han, Y.; Haide, I.; Gudkova, K.; Guan, Y.; Gruberova, Z.; Greenwald, D.; Graziani, E.; Gradl, W.; Goldenzweig, P.; Gogota, O.; Godang, R.; Gobbo, B.; Gironella Gironell, P.; Giri, A.; Giordano, R.; Giakoustidis, G.; Ghosh, D.; Gellrich, A.; Gaz, A.; Gautam, V.; Gaur, V.; Gaudino, G.; Garg, R.; Garcia-Hernandez, M.; Ganiev, E.; Gale, A.; Gabrielli, A.; Fulsom, B. G.; Frey, A.; Forti, F.; Fodor, A.; Finocchiaro, G.; Finck, C.; Fillinger, T.; Ferber, T.; Feichtinger, P.; Farkas, R.; Eppelt, J.; Ecker, P.; Dujany, G.; Dorigo, M.; Dong, T. V.; Dominguez Jimenez, I.; Dolezal, Z.; Dingfelder, J.; Di Canto, A.; Dey, S.; Destefanis, M.; De Sangro, R.; De Pietro, G.; De La Motte, S. A.; De La Cruz-Burelo, E.; Das, S.; Cui, J. X.; Corona, L.; Consigny, I.; Cochran, J.; Choudhury, S.; Choi, S. -K.; Cho, S. -J.; Cho, K.; Cho, H. -E.; Chirapatpimol, K.; Chin, J.; Chilikin, K.; Cheon, B. G.; Chen, Y. -T.; Chen, L.; Cheema, P.; Chang, M. -C.; Cecchi, C.; Casarosa, G.; Cao, L.; Campajola, M.; Campagna, Q.; Bussino, S.; Budano, A.; Browder, T. E.; Briere, R. A.; Branchini, P.; Bracko, M.; Bozek, A.; Boschetti, A.; Borah, J.; Bonvicini, G.; Bondar, A.; Bodrov, D.; Bobrov, A.; Biswas, D.; Bilka, T.; Bianchi, F.; Bhuyan, B.; Bettarini, S.; Bessner, M.; Bertholet, E.; Bertemes, M.; Bertacchi, V.; Bernlochner, F. U.; Bennett, J. V.; Becker, J.; Becherer, F.; Beaubien, A.; Baur, A.; Baudot, J.; Bartl, M.; Barrett, M.; Banerjee, S.; Bambade, P.; Bahinipati, S.; Baghel, N. K.; Bae, H.; Babu, V.; Ayad, R.; Aversano, M.; Aushev, V.; Aushev, T.; Atmacan, H.; Asner, D. M.; Antonioli, C.; Ky, N. A.; Angelsmark, M.; Amos, K.; Althubiti, N.; Aloisio, A.; Alhakami, M.; Alghamdi, S.; Albert, A.; Akopov, N.; Aihara, H.; Ahn, Y.; Ahmed, H.; Adachi, I.. - In: THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. C, PARTICLES AND FIELDS. - ISSN 1434-6044. - 85:11(2025). [10.1140/epjc/s10052-025-14627-7]