ANALISI DEI PIGMENTI DI AFFRESCHI DI BAIA (NAPOLI) MEDIANTE EDXRF CON UNO SPETTROMETRO PORTATILE / Paternoster, Giovanni; Felici, A. C.; G., Fronterotta; Nicolais, C.; Rinzivillo, R.; Vendittelli, M.. - STAMPA. - (2004), pp. 267-276. (Intervento presentato al convegno LA DIAGNOSTICA PER LA TUTELA DEI MATERIALI E DEL COSTRUITO tenutosi a SITO REALE DI S. LEUCIO (CE) nel 4 DICEMBRE 2003).
ANALISI DEI PIGMENTI DI AFFRESCHI DI BAIA (NAPOLI) MEDIANTE EDXRF CON UNO SPETTROMETRO PORTATILE
PATERNOSTER, GIOVANNI;
2004
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.