ANALISI DEI PIGMENTI DI AFFRESCHI DI BAIA (NAPOLI) MEDIANTE EDXRF CON UNO SPETTROMETRO PORTATILE / Paternoster, Giovanni; Felici, A. C.; G., Fronterotta; Nicolais, C.; Rinzivillo, R.; Vendittelli, M.. - STAMPA. - (2004), pp. 267-276. (Intervento presentato al convegno LA DIAGNOSTICA PER LA TUTELA DEI MATERIALI E DEL COSTRUITO tenutosi a SITO REALE DI S. LEUCIO (CE) nel 4 DICEMBRE 2003).

ANALISI DEI PIGMENTI DI AFFRESCHI DI BAIA (NAPOLI) MEDIANTE EDXRF CON UNO SPETTROMETRO PORTATILE

PATERNOSTER, GIOVANNI;
2004

2004
9788888141800
ANALISI DEI PIGMENTI DI AFFRESCHI DI BAIA (NAPOLI) MEDIANTE EDXRF CON UNO SPETTROMETRO PORTATILE / Paternoster, Giovanni; Felici, A. C.; G., Fronterotta; Nicolais, C.; Rinzivillo, R.; Vendittelli, M.. - STAMPA. - (2004), pp. 267-276. (Intervento presentato al convegno LA DIAGNOSTICA PER LA TUTELA DEI MATERIALI E DEL COSTRUITO tenutosi a SITO REALE DI S. LEUCIO (CE) nel 4 DICEMBRE 2003).
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