Approccio bayesiano pratico per l’analisi di affidabilità di dispositivi ad alta tecnologia / Giorgio, M; Lanzotti, A.. - (1996), pp. 24-26. (Intervento presentato al convegno ATTI DEL III CONGRESSO NAZIONALE SIMAI tenutosi a SALICE TE, SALICE TERME (PV), ITALIA, nel 27-31 MAGGIO 1996).

Approccio bayesiano pratico per l’analisi di affidabilità di dispositivi ad alta tecnologia

GIORGIO M;LANZOTTI A.
1996

1996
Approccio bayesiano pratico per l’analisi di affidabilità di dispositivi ad alta tecnologia / Giorgio, M; Lanzotti, A.. - (1996), pp. 24-26. (Intervento presentato al convegno ATTI DEL III CONGRESSO NAZIONALE SIMAI tenutosi a SALICE TE, SALICE TERME (PV), ITALIA, nel 27-31 MAGGIO 1996).
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