Thermal contact resistance at the Nb/Cu interface as a limiting factor for sputtered thin film RF superconducting cavities / Palmieri, V.; Vaglio, Ruggero. - In: SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0953-2048. - 29:(2015), pp. 015004-1-015004-12. [10.1088/953-2048/29/1/15004]
Thermal contact resistance at the Nb/Cu interface as a limiting factor for sputtered thin film RF superconducting cavities
VAGLIO, RUGGERO
2015
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