Two dimensional analysis of a test structure for lifetime profile measurements / Daliento, Santolo; Rinaldi, Niccolo'; Sanseverino, Annunziata; P., Spirito. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - STAMPA. - 42:11(1995), pp. 1924-1928.

Two dimensional analysis of a test structure for lifetime profile measurements

DALIENTO, SANTOLO;RINALDI, NICCOLO';SANSEVERINO, ANNUNZIATA;
1995

1995
Two dimensional analysis of a test structure for lifetime profile measurements / Daliento, Santolo; Rinaldi, Niccolo'; Sanseverino, Annunziata; P., Spirito. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - STAMPA. - 42:11(1995), pp. 1924-1928.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11588/487098
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact