Reliability enhancement with the aid of transient infrared thermal analysis of smart Power MOSFETs during short circuit operation / Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; R., Letor; S., Russo. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 45:(2005), pp. 1706-1710.

Reliability enhancement with the aid of transient infrared thermal analysis of smart Power MOSFETs during short circuit operation

IRACE, ANDREA;BREGLIO, GIOVANNI;SPIRITO, PAOLO;
2005

2005
Reliability enhancement with the aid of transient infrared thermal analysis of smart Power MOSFETs during short circuit operation / Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; R., Letor; S., Russo. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 45:(2005), pp. 1706-1710.
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