Scattering from fractal dielectric profiles: the extended boundary condition method / Franceschetti, G; Iodice, A; Riccio, D; Ruello, Giuseppe. - (2000). [10.1109/IGARSS.2000.857326]
Scattering from fractal dielectric profiles: the extended boundary condition method
RUELLO, GIUSEPPE
2000
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.