DETECTION AND LOCATION OF DEFECTS IN ELECTRONIC DEVICES BY MEANS OF SCANNING ULTRASONIC MICROSCOPY AND THE WAVELET TRASFORM / Angrisani, Leopoldo; L., Bechou; D., Dallet; P., Daponte; Y., Ousten. - In: MEASUREMENT. - ISSN 0263-2241. - (2002), pp. 77-91.
DETECTION AND LOCATION OF DEFECTS IN ELECTRONIC DEVICES BY MEANS OF SCANNING ULTRASONIC MICROSCOPY AND THE WAVELET TRASFORM
ANGRISANI, LEOPOLDO;
2002
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