DEXP: A FAST METHOD TO DETERMINE THE DEPTH TO THE SOURCES OF POTENTIAL FIELDS / Fedi, Maurizio. - STAMPA. - (2005), pp. 684-687. (Intervento presentato al convegno 75th Seg International Exposition and Annual Meeting (Seg H tenutosi a Houston (USA) nel November 6th-9th).

DEXP: A FAST METHOD TO DETERMINE THE DEPTH TO THE SOURCES OF POTENTIAL FIELDS.

FEDI, MAURIZIO
2005

2005
9781604236101
DEXP: A FAST METHOD TO DETERMINE THE DEPTH TO THE SOURCES OF POTENTIAL FIELDS / Fedi, Maurizio. - STAMPA. - (2005), pp. 684-687. (Intervento presentato al convegno 75th Seg International Exposition and Annual Meeting (Seg H tenutosi a Houston (USA) nel November 6th-9th).
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