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Reliability 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2018 D'Alessandro, Vincenzo; Maneux, Cristell; Fischer, Gerhard G.; Aufinger, Klaus; Magnani, Alessandro; Russo, Salvatore; Rinaldi, Niccolo'
Effective electrothermal analysis of electronic devices and systems with parameterized macromodeling 1.1 Articolo in rivista 2015 Francesco, Ferranti; Magnani, Alessandro; D'Alessandro, Vincenzo; Russo, Salvatore; Rinaldi, Niccolo'; Tom, Dhaene; DE MAGISTRIS, Massimiliano
Parameterized thermal macromodeling for fast and effective design of electronic components and systems 4.1 Articoli in Atti di convegno 2014 Francesco, Ferranti; Tom, Dhaene; Russo, Salvatore; Magnani, Alessandro; DE MAGISTRIS, Massimiliano; D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'
Time domain dynamic electrothermal macromodeling for thermally aware integrated system design 4.1 Articoli in Atti di convegno 2013 D'Alessandro, Vincenzo; DE MAGISTRIS, Massimiliano; Magnani, Alessandro; Rinaldi, Niccolo'; Stefano Grivet Talocia, ; Russo, Salvatore
Dynamic electrothermal macromodeling: An application to signal integrity analysis in highly integrated electronic systems 1.1 Articolo in rivista 2013 D'Alessandro, Vincenzo; DE MAGISTRIS, Massimiliano; Magnani, Alessandro; Rinaldi, Niccolo'; Russo, Salvatore
Analysis of the thermal behavior of AlGaN/GaN HEMTs 1.1 Articolo in rivista 2012 Russo, Salvatore; D'Alessandro, Vincenzo; Maurizio, Costagliola; Sasso, Grazia; Rinaldi, Niccolo'
Electrothermal reduced equivalents of highly integrated electronic systems with multi-port positive fraction Foster expansion 4.1 Articoli in Atti di convegno 2012 D'Alessandro, Vincenzo; DE MAGISTRIS, Massimiliano; Magnani, Alessandro; Rinaldi, Niccolo'; Russo, Salvatore
Dynamic electrothermal analysis of bipolar devices and circuits relying on multi-port positive fraction Foster representation 4.1 Articoli in Atti di convegno 2012 D'Alessandro, Vincenzo; DE MAGISTRIS, Massimiliano; Magnani, Alessandro; Rinaldi, Niccolo'; Russo, Salvatore
Impact of scaling on the DC/RF thermal behavior of SiGe HBTs for high-frequency applications 1.1 Articolo in rivista 2012 Sasso, Grazia; D'Alessandro, Vincenzo; Maurizio, Costagliola; Russo, Salvatore; Rinaldi, Niccolo'
Analysis of the thermal behavior of AlGaN/GaN HEMTs 4.1 Articoli in Atti di convegno 2011 Russo, Salvatore; D'Alessandro, Vincenzo; Maurizio, Costagliola; Sasso, Grazia; Rinaldi, Niccolo'
Impact of scaling on the DC/RF thermal behavior of Terahertz SiGe HBTs 4.1 Articoli in Atti di convegno 2011 Sasso, Grazia; D'Alessandro, Vincenzo; Maurizio, Costagliola; Russo, Salvatore; Christoph, Jungemann; Rinaldi, Niccolo'
Development of an enhanced ADS electrothermal simulation tool for RF circuits 8.02 Comunicazioni a Convegni o Seminari 2010 Russo, Salvatore; D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'
Impact of layout and technology parameters on the thermal resistance of SiGe:C HBTs 4.1 Articoli in Atti di convegno 2010 D'Alessandro, Vincenzo; Ilaria, Marano; Russo, Salvatore; Didier, Celi; Alain, Chantre; Pascal, Chevalier; Franck, Pourchon; Rinaldi, Niccolo'
Thermal effects in thin silicon dies: simulation and modeling 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2010 Rinaldi, Niccolo'; Russo, Salvatore; D'Alessandro, Vincenzo
Influence of layout design and on-wafer heatspreaders on the thermal behavior of fully-isolated bipolar transistors: Part I - Static analysis 1.1 Articolo in rivista 2010 Russo, Salvatore; Luigi La Spina, ; D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'; Nanver, Lis K.
Influence of layout design and on-wafer heatspreaders on the thermal behavior of fully-isolated bipolar transistors: Part II - Dynamic analysis 1.1 Articolo in rivista 2010 Russo, Salvatore; Luigi La Spina, ; D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'; Nanver, Lis K.
Thermal design of multifinger bipolar transistors 1.1 Articolo in rivista 2010 Luigi La Spina, ; D'Alessandro, Vincenzo; Russo, Salvatore; Nanver, Lis K.
Numerical analysis of the dynamic thermal behavior of RF bipolar transistors 4.1 Articoli in Atti di convegno 2009 Russo, Salvatore; D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'; DE MAGISTRIS, Massimiliano; Luigi La Spina, ; Nanver, Lis K.
Influence of concurrent electrothermal and avalanche effects on the safe operating area of multifinger bipolar transistors 1.1 Articolo in rivista 2009 Luigi La Spina, ; D'Alessandro, Vincenzo; Russo, Salvatore; Rinaldi, Niccolo'; Nanver, Lis K.
Electrothermal behavior of highly-symmetric three-finger bipolar transistors 4.1 Articoli in Atti di convegno 2009 Luigi La Spina, ; D'Alessandro, Vincenzo; Russo, Salvatore; Rinaldi, Niccolo'; Nanver, Lis K.
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