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Infrared Thermography applied to power electron devices investigation 1.1 Articolo in rivista 2015 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Maresca, Luca; Riccio, Michele; Romano, Gianpaolo; Spirito, Paolo
Effect of the Collector Design on the IGBT Avalanche Ruggedness: A Comparative Analysis between Punch-Through and Field-Stop Devices 1.1 Articolo in rivista 2015 Spirito, Paolo; Maresca, Luca; Riccio, Michele; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore
Cell pitch influence on the current distribution during avalanche operation of trench IGBTs: Design issues to increase UIS ruggedness2014 IEEE 26th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD) 4.1 Articoli in Atti di convegno 2014 Riccio, Michele; Maresca, Luca; DE FALCO, Giuseppe; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo; Y., Iwahashi
Physics of the Negative Resistance in the Avalanche I-V Curve of Field Stop IGBTs: Collector Design Rules for Improved Ruggedness 1.1 Articolo in rivista 2014 Spirito, Paolo; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Maresca, Luca; Napoli, Ettore; Riccio, Michele
Energy and current crowding limits in avalanche operation of IGBTs 4.1 Articoli in Atti di convegno 2013 Riccio, Michele; Napoli, Ettore; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Experimental Detection and Numerical Validation of Different Failure Mechanisms in IGBTs During Unclamped Inductive Switching 1.1 Articolo in rivista 2013 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Riccio, Michele; Spirito, Paolo
An experimental power-lines model for digital ASICs based on transmission-lines 1.1 Articolo in rivista 2012 Costagliola, Maurizio; DE CARO, Davide; A., Girardi; R., Izzi; Rinaldi, Niccolo'; M., Spirito; Spirito, Paolo
Voltage drops, sawtooth oscillations and HF bursts in Breakdown Current and Voltage waveforms during UIS experiments 4.1 Articoli in Atti di convegno 2012 Irace, Andrea; Spirito, Paolo; Riccio, Michele; Breglio, Giovanni
Electro-thermal instability in multi-cellular Trench-IGBTs in avalanche condition: experiments and simulations 4.1 Articoli in Atti di convegno 2011 Riccio, Michele; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; Napoli, Ettore; Y., Mizuno
A novel UIS test system with Crowbar feedback for reduced failure energy in power devices testing 1.1 Articolo in rivista 2010 Rossi, Lucio; Riccio, Michele; Napoli, Ettore; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Analysis of large area Trench-IGBT current distribution under UIS test with the aid of lock-in thermography 1.1 Articolo in rivista 2010 Riccio, Michele; Rossi, Lucio; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; R., Tagami; Y., Mizuno
Compact Electro-thermal Modeling and Simulation of Large Area Multicellular Trench-IGBT 4.1 Articoli in Atti di convegno 2010 Riccio, Michele; M., Carli; Rossi, Lucio; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Experimental study on power consumption in lifetime engineered power diodes 1.1 Articolo in rivista 2009 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; R., Carta; L., Merlin
Semiconducto Device with Buffer Layer 6.1 Brevetto 2009 Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; Merlin, L; Raffo, D; Bricconi, A.
Thermal simulation and ultrafast IR temperature mapping of a Smart Power Switch for automotive applications 4.1 Articoli in Atti di convegno 2009 Riccio, Michele; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; . Kosel V, .; Glavanovics, M.; Satka, A.
1300 V, 2 ms pulse inductive load switching test circuit with 20 ns selectable crowbar intervention 1.1 Articolo in rivista 2009 Rossi, Lucio; Riccio, Michele; Napoli, Ettore; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Lifetime and resistivity modifications induced by helium implantation in silicon: experimental analysis with the ac profiling technique 1.1 Articolo in rivista 2008 Daliento, Santolo; Mele, L; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Limata, BENEDICTA NORMANNA
Detection of localized UIS failure on IGBTs with the aid of lock-in thermography 1.1 Articolo in rivista 2008 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Riccio, Michele; Spirito, Paolo; K., Hamada; T., Nishijima; T., Ueta
A Dynamic Temperature Mapping System with a 320x256 Pixels Frame Size and 100kHz Sampling Rate 4.1 Articoli in Atti di convegno 2008 Riccio, Michele; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Study of a failure mechanism during UIS switching of planar PT-IGBT with current sense cell 1.1 Articolo in rivista 2007 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Spirito, Paolo; K., Hamada; T., Nishijima; T., Ueta
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